Xradia Context microCT
蔡司Xradia Context是一款大视场、非破坏性3D X射线微米计算机断层扫描系统。凭借强大的平台和灵活的软件控制源及探测器定位，您可以在完整的三维环境中对大尺寸、重量25 kg内和高尺度样本进行成像，同样也可以对小样品进行高分辨率的成像。
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蔡司 Xradia 610 & 620 Versa
蔡司Xradia 610 & 620 Versa 3D X射线显微镜在科研和工业研究领域为您开启多样化应用的新高度。基于高分辨率和衬度成像技术，Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亚微米级无损成像的研究界限。
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蔡司 Xradia 520 Versa亚微米X射线显微镜
蔡司Xradia 520 Versa在您的科学探索和工业研究中展示了它多样化的应用。该系统可使用X射线实现无损3D成像。该产品基于业界前沿的高分辨率和衬度成像技术，拓展了无损成像的应用局限。创新的成像衬度和图像采集技术让你自由地定位并发现您前所未见过的信息。
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蔡司 Xradia 515 Versa 具有突破性的灵活3D亚微米成像系统
蔡司X射线显微镜 Xradia 515 Versa 突破3D成像和原位/ 4D研究的微米级分辨率的成像壁垒。 其高分辨率、高衬度以及灵活的工作距离下成像能力的组合，拓展了实验室无损成像能力。 蔡司 Xradia 515 Versa 得益于两级放大的架构，可实现大工作距离下亚微米级分辨率成像（RaaD）。 减少对单级几何放大的依赖性，在大工作距离下依然保持了亚微米级分辨率。
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蔡司 Xradia 410 Versa蔡司 Xradia 410 Versa 三维亚微米成像的主力解决方案
填补实验室无损亚微米显微镜的空白 Xradia 410 Versa 填补了高性能 X 射线显微镜和低功能计算机断层扫描（CT）系统之间的空白。Xradia 410 Versa 以业界出众的分辨率、出色衬度和优质原位性能提供无损 3D 成像，使您可以实现对各种尺寸样品的开创性研究。低成本高性能的标准化主力解决方案强化了成像流程，在不同的实验室环境中应用自如。
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蔡司 Xradia 810 Ultra 扩展无损纳米成像的性能和应用范围
拥有蔡司 Xradia 810 Ultra X射线显微镜，您可以实现低至 50 nm 的空间分辨率，这是业界实验室 X 射线成像系统前沿的水平。由于无损 3D 成像在如今的突破性研究中有重要的作用，您将会体验到出色的优异性能和灵活性。创新的 Xradia Ultra 系列具有吸收衬度和相位衬度的功能，并使用独有的由同步辐射光学器件改造而来的附件，在光子能量为 5.4KeV 时纳米成像能力提高10倍
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